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AI 驅動文件

您想了解什麼?

Classifier 與 Segmenter

這是建立程式時最常見的問題。以下是一個清晰的判斷框架。

實戰演示 — 互動式深度解析

如需檢視帶有互動式模擬器、圖示以及每種模型型別的實操演練的視覺化講解,請參閱:

Classifier(分類器)

分類器檢視每個 ROI 裁剪區域並將其歸入某個類別:透過、失敗、存在、缺失、劃痕、良好,或您定義的任何類別。

可以將其想象為把卡片分到不同的堆中。 AI 檢視整個裁剪區域,然後判斷"這張放入透過堆"或"這張放入失敗堆"。

適用 classifier 的場景:

  • 您需要做透過/失敗或多類別決策
  • 您的 ROI 足夠小,能夠清晰顯示缺陷
  • 標註速度很重要(分類器的標註速度要快得多)
  • 您要檢查某個特徵的存在/缺失
  • 示例:螺絲存在/缺失、聯結器已就位/未就位、標籤正確/錯誤

如需透過互動式演練場進行更深入的講解,請閱讀 Understanding Classifier

Segmenter(分割器)

分割器在畫素級別檢查每個 ROI 裁剪區域,並精確識別哪些畫素屬於缺陷。

可以將其想象為用記號筆進行高亮標記。 AI 會精確地圈出缺陷所在的位置,而不僅僅是判斷缺陷是否存在。

適用 segmenter 的場景:

  • 您需要畫素級的缺陷定位(劃痕到底在哪裡?)
  • 您需要測量缺陷尺寸或面積
  • 您的 ROI 需要較大,但您要查詢的是小缺陷
  • 您需要在一個區域中對多個缺陷進行計數
  • 示例:表面劃痕、汙漬、裂紋、焊接質量、尺寸測量
在與檢測時相同的尺度下訓練 segmenter

分割器只能學習其訓練時所見缺陷的尺寸與紋理。如果您用小的汙染物來訓練它,那麼產線上出現同類缺陷的大塊版本時,可能只有邊緣或零散的斑塊被高亮 — 缺陷的主體部分將不會被遮罩。解決方法是在訓練樣本中涵蓋您預期的全部缺陷尺寸範圍。沒有大缺陷樣本?可使用 Defect Creator Studio 來生成合成樣本。

如需透過互動式演練場進行更深入的講解,請閱讀 Understanding Segmenter

對比

方面ClassifierSegmenter
它告訴您什麼類別(透過/失敗等)缺陷的精確畫素
標註工作量低:每張影象選擇一個類別高:繪製缺陷畫素
所需資料起步階段每個類別 10-15 張影象類似,但標註耗時更長
ROI 尺寸在小 ROI 下效果最佳能更好地處理較大的 ROI
速度經過最佳化後同樣快
最適合存在/缺失、類別決策劃痕、汙漬、測量、畫素級檢測

重疊區域

確實存在重疊。許多檢測使用任一方法都可行。如果您不確定:

  1. 從分類器開始。 它設定更簡單,標註更快
  2. 如果您發現分類器精度不夠(無法檢測大面積中的小缺陷,或您需要測量),切換到分割器
  3. tools.overview.ai 詢問 AI Assistant。描述您的應用,它將推薦最佳方案
需要訓練影象?

使用 Defect Creator Studio 為任一方法生成逼真的合成缺陷影象 —— 用簡單的英語描述缺陷,幾秒內即可獲得可用於訓練的影象。

OV20i 與 OV80i

  • OV20i: 每個程式選擇一個,分類器或分割器
  • OV80i: 支援多模型。在同一個程式中針對同一次捕獲組合使用兩者